賽默飛CID檢測(cè)器檢測(cè)原理是怎樣的
CID是一種電荷注入器件，其基本結(jié)構(gòu)與CCD相似，也是一種MOS結(jié)構(gòu)，當(dāng)柵極上加上電壓時(shí)，表面形成少數(shù)載流子的勢(shì)阱，入射光子在勢(shì)阱鄰近被吸收時(shí)，產(chǎn)生的電子被收集在勢(shì)阱里，其積分過(guò)程與CCD一樣。
賽默飛CID檢測(cè)器使用簡(jiǎn)單，操作容易，無(wú)需設(shè)置調(diào)整，無(wú)需用戶校準(zhǔn)，樣品不需處理，穩(wěn)定可靠，使用成本低便于攜帶等特點(diǎn)。具有可直接顯示分析結(jié)果和金屬類型、對(duì)／錯(cuò)鑒別，快速分類、黑色以及有色金屬近似定量分析和等級(jí)鑒別，利用預(yù)置的通用或特別工作曲線，可作單基體或多基體分析，可以按照具體樣品和用戶的要求進(jìn)一步制作工作曲線，以滿足特殊工藝或材質(zhì)的要求等功能。可以攜帶到需要做可靠的金屬鑒別或金屬分類的任何地方，適合于現(xiàn)場(chǎng)金屬分析 。是一種全新概念的金屬分析儀。
賽默飛CID檢測(cè)器檢測(cè)原理是把光生電荷轉(zhuǎn)移出去再檢測(cè)，由于電荷轉(zhuǎn)移出去后，MOS電容中不再有電荷，所以叫破壞型讀出方式。CID是在每個(gè)檢測(cè)單元上直接測(cè)，測(cè)量完畢后，光生電荷仍然存儲(chǔ)在MOS電容中（可以參看下面的檢測(cè)過(guò)程），所以叫非破壞型讀出方式。
CID與CCD的主要區(qū)別在于讀出過(guò)程，在CCD中，信號(hào)電荷必須經(jīng)過(guò)轉(zhuǎn)移，才能讀
出，信號(hào)一經(jīng)讀取即刻消失。而在CID中，信號(hào)電荷不用轉(zhuǎn)移，是直接注入體內(nèi)形成電流
來(lái)讀出的。即每當(dāng)積分結(jié)束時(shí)，去掉柵極上的電壓，存貯在勢(shì)阱中的電荷少數(shù)載流子(電子)被注入到體內(nèi)，從而在外電路中引起信號(hào)電流。
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